1.
Conference Proceedings |
Mori, Y. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T.
|
|||||||
2.
Conference Proceedings |
2. Fabrication technology of hard x-ray aspherical mirror optics and application to nanospectroscopy
Mori, Y. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Shimura, M. ; Ishizaka, Y.
|
|||||||
3.
Conference Proceedings |
Matsuyama, S. ; Mimura, H. ; Shimura, M. ; Yumoto, H. ; Katagishi, K. ; Handa, S. ; Shibatani, A. ; Sano, Y. ; Yamamura, K. ; Nishino, Y. ; Tamasaku, K. ; Yabashi, M. ; Ishikawa, T. ; Yamauchi, K.
|
|||||||
4.
Conference Proceedings |
Mimura, H. ; Matsuyama, S. ; Yumoto, H. ; Handa, S. ; Shibatani, A. ; Katagishi, K. ; Sano, Y. ; Nishino, Y. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Yamauchi, K.
|
|||||||
5.
Conference Proceedings |
Assoujfid, L. ; Rommeveaux, A. ; Ohashi, H. ; Yamauchi, K. ; Mimura, H. ; Qian, J. ; Hignette, O. ; Ishikawa, T. ; Morawe, C. ; Macrander, A. ; Khounsary, A. ; Goto, S.
|
|||||||
6.
Conference Proceedings |
Mimura, H. ; Yumoto, H. ; Matsuyama, S. ; Yamamura, K. ; Sano, Y. ; Endo, K. ; Mori, Y. ; Nishino, Y. ; Tabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Yamauchi, Y.
|
|||||||
7.
Conference Proceedings |
Yumoto, H. ; Mimura, H. ; Matsuyama, S. ; Handa, S. ; Shibatani, A. ; Katagishi, K. ; Sano, Y. ; Yabashi, M. ; Nishino, Y. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Yamauchi, K.
|
|||||||
8.
Conference Proceedings |
Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Yamauchi, K. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Kinoshita, T. ; Endo, K. ; Mori, Y. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T.
|
|||||||
9.
Conference Proceedings |
Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Kanaoka, M. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Mori, Y.
|
|||||||
10.
Conference Proceedings |
Mori, Y. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Ueno, K. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T.
|