1.
Conference Proceedings |
Fitch, R. ; Schuermeyer, F. ; Welser, R. ; Jenkins, T. ; Dettmer, R. ; Gillespie, J. ; Sewell, J. ; Nakano, K. ; Bozada, C. ; Via, D. ; Welch, R.
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2.
Conference Proceedings |
Brillson, L.J. ; Jessen, G.H. ; Goss, S.H. ; Sun, X.L. ; Bradley, S.T. ; White, B.D. ; Smith, P.E. ; Levin, T.E. ; Young, A.P. ; Look, D.C. ; Van Nostrand, J.E. ; Via, G.D. ; Gillespie, J.K. ; Dettmer, R.W. ; Sewell, J.S. ; Fitch, R.
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3.
Conference Proceedings |
Moser, N. ; Fitch, R. ; Via, D. ; Crespo, A. ; Yannuzzi, M. ; Jessen, G. ; Gillespie, J. ; Luo, B. ; Ren, F. ; Abernathy, C. ; Pearton, S. ; Gila, B.
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4.
Conference Proceedings |
4. Effect of Silicon Nitride PECVD Growth on AlGaN/GaN HEMT Dispersion and Breakdown Characteristics
Fitch, R. ; Gillespie, J. ; Via, D. ; Agresta, D. ; Jenkins, T. ; Jessen, G. ; Moser, N. ; Crespo, A. ; Dabiran, A. ; Osinsk, A.
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5.
Conference Proceedings |
Ren, F. ; Luo, B. ; Kim, J. ; Mehandru, R. ; Gila, B. P. ; Onstine, A. H. ; Abernathy, C. R. ; Pearton, S. J. ; Fitch, R. ; Gillespie, J. ; Jenkins, T. ; Sewell, J. ; Via, D. ; Crespo, A. ; Irokawa, Y.
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