1.
Conference Proceedings |
Masi, M. ; Carra, S. ; Vaccari, G. ; Crippa, D.
|
|||||||
2.
Conference Proceedings |
2. MOS C-t characteristics and gate oxide quality versus bulk iron contamination in epitaxial wafers
Bellutti, P. ; Collini, A. ; Zorzi, N. ; Vaccari, G. ; Crippa, D.
|
|||||||
3.
Conference Proceedings |
Masi, M. ; Radaelli, G. ; Roda, N. ; Raimondi, P. ; Carra, S. ; Vaccari, G. ; Crippa, D.
|
|||||||
4.
Conference Proceedings |
Aquilano, D. ; Rubbo, M. ; Mantovani, G. ; Vaccari, G. ; Sgualdino, G.
|