1.
Conference Proceedings |
Pique, F. ; Derrick, M. ; Parker, A. ; Schilling, M. ; Scott, D.
|
|||||||
2.
Conference Proceedings |
Dale, J. ; Scott, D. ; Dwyer, D. ; Thornton, J.
|
|||||||
3.
Conference Proceedings |
Devlin, M. J. ; Ade, P. A. R. ; Aretxaga, I. ; Bock, J. J. ; Chung, J. ; Chapin, E. ; Dicker, S. R. ; Griffin, M. ; Gundersen, J. ; Halpern, M. ; Hargrave, P. ; Hughes, D. ; Klein, J. ; Marsden, G. ; Martin, P. ; Mauskopf, P. D. ; Netterfield, B. ; Olmi, L. ; Pascale, E. ; Rex, M. ; Scott, D. ; Semisch, C. ; Truch, M. ; Tucker, C. ; Tucker, G. ; Turner, A. D. ; Weibe, D.
|
|||||||
4.
Conference Proceedings |
4. Improving manufacturing variability control in advanced CMOS technology by using TCAD methodology
Chen, J. ; Wu, J. ; Liu, K. ; Yang, H. ; Scott, D.
|
|||||||
5.
Conference Proceedings |
Scott, D. ; Ade, P. ; Bock, 1. ; DeBernardis, P. ; Dealin, M. ; Griffn, M. ; Gundcrscn, J. ; Halpcrn, M. ; Hughes, D. ; Klein, J. ; Masi, S. ; Mauskopf, P. ; Netterfield, B. ; Olrmi, L. ; Page, L. ; Tucker, G.
|
|||||||
6.
Conference Proceedings |
Wang, S. ; Duewer, F. ; Feser, M. ; Scott, D. ; Yun, W.
|