1.
Technical Paper |
Rowenhorst, D. ; Alkemper, J. ; Snyder, V. ; Voorhees, P.
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2.
Conference Proceedings |
Aschke, L. ; Becker, H. W. ; Friemel, F. ; Leutbecher, T. ; Olschewski, N. ; Renno, M. ; Ruggeberg, F. ; Schiffler, M. ; Schmidt, F. ; Sobel, F. ; Walter, K. ; Heβ, G. ; Lenzen, F. ; Knapp, K. ; Alkemper, J. ; Hack, H. ; Megges, K. ; Mitra, I. ; Muller, R. ; Nolte, U. ; Schumacher, J. ; Pannhorst, W.
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3.
Conference Proceedings |
Mitra, I. ; Alkemper, J. ; Nolte, U. ; Engel, A. ; Mueller, R. ; Ritter, S. ; Hack, H. ; Megges, K. ; Kohlmann, H. ; Pannhorst, W. ; Davis, M.J. ; Aschke, L. ; Knapp, K.
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4.
Conference Proceedings |
Mitra, I. ; Davis, M.J. ; Alkemper, J. ; Mueller, R. ; Kohlmann, H. ; Aschke, L. ; Moersen, E. ; Ritter, S. ; Hack, H. ; Pannhorst, W.
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5.
Conference Proceedings |
Mitra, I. ; Alkemper, J. ; Mueller, R. ; Nolte, U. ; Engel, A. ; Hack, H. ; Kohlmann, H. ; Wittmer, V. ; Pannhorst, W. ; Davis, M.J. ; Aschke, L. ; Knapp, K.
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