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Workshop on Radiation Effects and Fault Tolerance in Nanometer Technologies (WREFT 08) : Ischia, Italy, 5 May 2008

シリーズ名:
ACM Conference Proceedings
シリーズ巻号:
WREFT 2008
出版情報:
New York: Association for Computing Machinery, 2008
ISBN:
9781605609027 [1605609021]
請求記号:
A04500/2008
資料種別:
国際会議録
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