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Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995

責任表示:
edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
シリーズ名:
Materials science forum
シリーズ巻号:
196-201
出版情報:
Zurich, Switzerland: Trans Tech Publications, 1995
ISSN:
02555476
ISBN:
9780878497164 [0878497161]
請求記号:
M23650
資料種別:
国際会議録
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