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Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A.

責任表示:
editors, Tomas Diaz de la Rubia ... [et al.]
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
469
出版情報:
Pittsburg, Pa.: MRS - Materials Research Society, 1997
ISSN:
02729172
ISBN:
9781558993730 [1558993738]
請求記号:
M23500/469
資料種別:
国際会議録
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