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Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A.

責任表示:
editors, Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
208
出版情報:
Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1991
ISSN:
02729172
ISBN:
9781558991002 [155899100X]
請求記号:
M23500/208
資料種別:
国際会議録
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