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Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A.

責任表示:
editors, R.J. Carter ... [et al.]
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
812
出版情報:
Warrendale: Materials Research Society, 2004
ISSN:
02729172
ISBN:
9781558997622 [1558997628]
請求記号:
M23500/812
資料種別:
国際会議録
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