Blank Cover Image

Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A.

責任表示:
editors, G.S Oehrlein ... [et al.]
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
612
出版情報:
Warrendale, PA: Materials Research Society, 2001
ISSN:
02729172
ISBN:
9781558995208 [155899520X]
請求記号:
M23500/612
資料種別:
国際会議録
巻号一覧
Loading volume number list

類似資料:

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12