1.

国際会議録
国際会議録
1. Fabrication and Characterization of Organic Light-Emitting Diodes using Transparent Single-Crystal-Silicon Membrane
S. Lee ; D. Kim ; H. Yang ; G. Lee ; J. Park
出版情報: Nanotechnology (General) - 213th ECS Meeting.  pp.13-17,  2008.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 13(18)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Removal of Organic Wax and Particles on Silicon after Batch type Polishing by Ozonated DI Water
J. Yi ; S. Lee ; T. Kim ; J. Park ; G. Lee
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.79-84,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Fabrication and Characterization of Semiconducting ZnO nanofiber for Advanced Environmental Sensing
T. Zyung ; S. Lee ; J. Park ; J. Moon
出版情報: ZnO based thin films, nano-wires, and nano-belts for photonic and electronic devices and sensors.  pp.87-93,  2008.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(12)
4.

国際会議録
国際会議録
4. Operating Characteristics of Advanced 500W Class Anode-supported Flat Tubular SOFC stack in KIER
T. Lim ; G. Kim ; J. Park ; R. Song ; S. Lee ; D. Shin
出版情報: Solid oxide fuel cells 10 (SOFC-X).  pp.193-198,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 7(1)
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. The Effect of Outer Ring Flange Concavity on Automotive Wheel Bearings Performance
S. Lee ; N. Lee ; J. Lim ; J. Park
出版情報: 34th Annual SAE 2016 Brake Colloquium & Exhibition : SAE technical paper.  2016.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2016
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. Hybrid Simulated Annealing with Particle Swarm Optimization Applied Krigging Meta Model
J. Im ; Y. Ro ; S. Lee ; J. Park
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference
シリーズ巻号: 2007
7.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
7. A Study on the System Link Availability Analysis for SATCOM Systems
C. Sin ; J. Park ; S. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号: 2006
8.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
8. A Study on the System Link Availability Analysis for SATCOM System
C. Sin ; J. Park ; S. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号: 2006
9.

国際会議録
国際会議録
9. Photoresist adhesion effect of resist reflow process
J. Park ; J. Lee ; M. Kim ; J. Kim ; S. Lee ; J. Park ; C. Bok ; S. Moon ; S. Park ; J. Hong ; H. Oh
出版情報: Advances in resist materials and processing technology XXIV.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6519
10.

国際会議録
国際会議録
10. OPC in memory-device patterns using boundary layer model for 3-dimensional mask topographic effect
Y. Kim ; I. Kim ; J. Park ; S. Kim ; S. Suh ; Y. Cheon ; S. Lee ; J. Lee ; C. Kang ; J. Moon ; J. Cobb ; S. Lee
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
11.

国際会議録
国際会議録
11. New PEC optimization for the mask fabrication of sub-50nm memory device
S. Lee ; D. Ryu ; J. Park ; D. Nam ; H. Kim ; B. Kim ; S. Woo ; H. Cho
出版情報: Photomask and next-generation lithography mask technology XIV.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6607
12.

国際会議録
国際会議録
12. Novel 1x3 wavelength MUX/DeMUX using extraneous self-imaging phenomenon
J. Hong ; J. Jung ; J. Park ; S. Lee
出版情報: Optoelectronic integrated circuits IX : 22-24 January 2007, San Jose, California.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6476
13.

国際会議録
国際会議録
13. Leakage characteristics for the buried photodiode structure on vertical CMOS image sensors
S. Lee ; S. Lim ; C. Lee ; J. Park ; S. Bang ; S. Kang ; R. A. Martin ; S. Bae ; J. W. Park
出版情報: Digital photography III : 29-30 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6502
14.

国際会議録
国際会議録
14. Properties of EUVL masks as a function of capping layer and absorber stack structures
H. Seo ; J. Park ; S. Lee ; H. Kim ; S. Kim ; H. Cho
出版情報: Emerging lithographic technologies XI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6517
15.

国際会議録
国際会議録
15. Lithography enhanced manufacturability analysis by using multilevel simulated contours
B. Seo ; W. Choi ; J. Park ; S. Woo ; S. Lee
出版情報: Design for manufacturability through design-process integration : 28 February-2 March 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6521