1.

国際会議録

国際会議録
H. Jing ; B. Fan ; S. Wu ; F. Wu ; T. Fan
出版情報: Optical test and measurement technology and equipment.  3  pp.67235L-1-67235L-5,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6723
2.

国際会議録

国際会議録
H. Jing ; S. Wu ; Q. Chen ; B. Lei ; J. Jiang
出版情報: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  1  pp.728303-1-728303-5,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7283
3.

国際会議録

国際会議録
H. Jing ; W. Yang ; B. Fan ; Y. Wan ; S. Wu
出版情報: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  1  pp.72830W-1-72830W-5,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7283
4.

国際会議録

国際会議録
W. Yang ; H. Jing ; S. Wu ; X. Cao
出版情報: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  1  pp.72830X-1-72830X-4,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7283
5.

国際会議録

国際会議録
W. Yang ; H. Jing ; S. Wu ; X. Cao
出版情報: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  1  pp.72830Z-1-72830Z-6,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7283