1.

国際会議録
国際会議録
1. An Easy Method to Measure the Damaged Thickness of Low-k Film after Ash Process
C. Shim ; H. Lim ; S. Jung ; I. Shin ; K. Park ; J. Whang ; H. Lee ; J. Kim ; J. Han ; K. Kim
出版情報: Dielectrics for nanosystems II: materials science, processing, reliability, and manufacturing.  pp.243-254,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(1)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Copper Diffusion and Corrosion Behavior Through the Hillock Defect Found Beneath the Weak SiN Dielectric Barrier in Dual Damascene Process
S. Kim ; C. Shim ; J. Hong ; H. Lee ; J. Han ; K. Kim ; Y. Kim
出版情報: Dielectrics for nanosystems II: materials science, processing, reliability, and manufacturing.  pp.237-242,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(1)
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Toward a Practical Analysis for Fluid-Structure Interactions in Helicopter Rotors
K. Kim ; H. Lee ; S. Shin ; D. Kim ; S. Kim
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference
シリーズ巻号: 2007
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Roll Estimation of a Smart Munition Using a Magnetometer Based on an Unscented Kalman Filter
H. Lee ; K. Kim ; H. Park ; C. Park ; J. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Guidance Navigation and Control Conference
シリーズ巻号: 2008
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. The Intelligent VoIP Communication System
K. Kim ; H. Lee ; J. Kim ; W. Ryu ; B. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号: 2006
6.

国際会議録
国際会議録
6. Fundamental study on the error factor for sub 90nm OPC modeling
H. Lee ; S.-U. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Photomask technology 2007.  3  pp.673058-1-673058-8,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6730