1.

国際会議録
国際会議録
1. Total dose radiation induced back channel threshold voltage shifts and standby currents of CMOS devices fabricated in Unibond materials
Liu, S.T. ; Jenkins, W. ; Huhes, H. ; Auberton-Herve, A.J.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.307-312,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
2.

国際会議録
国際会議録
2. Detrimental edge effects on the floating body phenomena in SOI MOSFETs
Duan, F.L. ; Zhao, X. ; Ioannou, D.E. ; Hughes, H.L. ; Liu, S.T.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.239-244,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
3.

国際会議録
国際会議録
3. Screening SIMOX wafers' background doping for SOI CMOS SRAM production
Yue, J. ; Liou, H.K. ; Liu, S.T.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.137-142,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
4.

国際会議録
国際会議録
4. Estimating proton induced SEU cross section of SOI CMOS SRAMS
Liu, S.T. ; Liu, H. ; Nelson, D.K. ; Flanery, M. ; Hughes, H.L.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.107-112,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
5.

国際会議録
国際会議録
5. MOSFFET Based 'Gated-Diode' Characterization of the Buried Oxide Interface of Irradiated and non-Irradiated SIMOX and UNIBOND Wafers
Ioannou, D. ; Salman, A. ; Lawrence, R.K. ; Jenkins, W. ; Liu, S.T.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.91-96,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
6.

国際会議録
国際会議録
6. MORPHOLOGY OF SILICON ISLANDS GROWN NY SELECTIVE EPITANY OVER SILICON DIOXIDE
Liu, S.T. ; Newstrom, K. ; Hibbs-Brenner, M. ; Stokes, R.J. ; Hoefflinger, B. ; Neudeck, G. ; Zingg, R. ; Bousse, L. ; Maindl, J.D.
出版情報: Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.169-174,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 53
7.

国際会議録
国際会議録
7. Radiation response of SOI CMOS translstors/4M SRAMs fabricated in UNIBOND substrates
Liu, S.T. ; Heikkila, W. ; Golke, K. ; Stinger, B. ; Flanery, M. ; Hurst, A. ; Panning, G. ; Kirchner, G. ; Jenkins, W.C.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.449-454,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
8.

国際会議録
国際会議録
8. Control of SEU in SOI SRAMs through carrier lifetime engineering
Mitra, S. ; Ioannou, D.P. ; Liu, S.T. ; Ioannou, D.E.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.461-466,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
9.

国際会議録
国際会議録
9. Hot electron lifetime of 0.8 jLm CMOS transistors fabricated in SIMOX
Jenkins, W.C. ; Liu, S.T.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.333-338,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11