1.

国際会議録
国際会議録
1. Detrimental edge effects on the floating body phenomena in SOI MOSFETs
Duan, F.L. ; Zhao, X. ; Ioannou, D.E. ; Hughes, H.L. ; Liu, S.T.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.239-244,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
2.

国際会議録
国際会議録
2. Estimating proton induced SEU cross section of SOI CMOS SRAMS
Liu, S.T. ; Liu, H. ; Nelson, D.K. ; Flanery, M. ; Hughes, H.L.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.107-112,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03