1.

国際会議録

国際会議録
He, M. ; Xia, J.
出版情報: Image processing and pattern recognition in remote sensing :25-27 October 2002, Hangzhou, China.  pp.36-43,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4898
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Brechting, B. ; Flack, R. ; Cloud, H. ; Barrett, L. ; He, M.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2003.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : TRIB
シリーズ巻号: 2003
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
He, M. ; Allaire, P. ; Cloud, C.H. ; Nicholas, J.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2003.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : TRIB
シリーズ巻号: 2003
4.

国際会議録

国際会議録
Willets, K.A. ; Ostroverkhova, O. ; Hess, S. ; He, M. ; Twieg, R.J. ; Moerner, W.E.
出版情報: Nanocrystals, and Organic and Hybrid Nanomaterials.  pp.150-157,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5222