1.

国際会議録
国際会議録
1. A COMPARISON OF ELLIPSOMETER AND RBS ANALYSIS OF IMPLANT DAMAGE IN SILICON
Paulson, W. M. ; Wilson, S. R. ; White, C. W. ; Appleton, B. R.
出版情報: Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.523-528,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 14
2.

国際会議録
国際会議録
2. *DOPANT INCORPORATION DURING RAPID SOLIDIFICATION
White, C. W. ; Zehner, D. M. ; Narayan, J. ; Holland,. O, W., ; Appleton, B. R. ; Wilson, S. R.
出版情報: Laser-solid interactions and transient thermal processing of materials : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.287-296,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 13