1.

国際会議録

国際会議録
Ohjim Yuzuru ; Uedono, Akira ; Wei, Long ; Tabuki, Yasushi ; Tanigawa, Shoichiro
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.313-318,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
2.

国際会議録

国際会議録
Sugiura, Jun ; Ogasawara, Makoto ; Uedono, Akira ; Wei, Long ; Tanigawa, Shoichiro
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.1055-1060,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
3.

国際会議録

国際会議録
Itoh, Hisayoshi ; Yoshikawa, Masahito ; Wei, Long ; Tanigawa, Shoichiro ; Nashiyama,. Isamu ; Misawa, Shunji ; Okumura, Hahime ; Yoshida, Sadafumi
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.331-336,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
4.

国際会議録

国際会議録
Uedono, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tabuki, Yasushi ; Tanigawa, Shoichiro ; Wada, K ; Nakanishi, H.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.325-330,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
5.

国際会議録

国際会議録
Tanigawa, Shoichiro ; Mizuhara, Yoji ; Hidaka, Yoshikazu ; Oda, Migaku ; Suzuki, Minoru ; Murakami, Toshiaki
出版情報: High-temperature superconductors : symposium held November 30-December 4, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.57-62,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 99