1.

国際会議録

国際会議録
Sathish, S. ; Jato, K. V. ; Martin, R. W. ; Reibel, R.
出版情報: Health monitoring and smart nondestructive evaluation of structural and biological systems V : 27 February-1 March 2006, San Diego, California, USA.  pp.617703-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6177
2.

国際会議録

国際会議録
Frouin, J. ; Maurer, J. ; Sathish, S. ; Eylon, D. ; Na, J. K. ; Matikas, T. E.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.79-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
3.

国際会議録

国際会議録
Sathish, S. ; Martin, R. W.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.55-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
4.

国際会議録

国際会議録
Rosner, H. ; Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Matikas, T. E.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.73-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
5.

国際会議録

国際会議録
Hoffmann, J. ; Sathish, S. ; Khobaib, M. ; Meyendorf, N. ; Netzelmann, U. ; Matikas, T. E.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.67-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
6.

国際会議録

国際会議録
Schumaker, E. J. ; Shen, L. ; Ruddell, M. J. ; Sathish, S. ; Murray, P. T.
出版情報: Nanophase and nanocomposite materials III : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.473-,  2000.  Pittsburgh, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 581
7.

国際会議録

国際会議録
Blackshire, J.L. ; Sathish, S.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems.  pp.172-182,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045
8.

国際会議録

国際会議録
Druffner, C.J. ; Schumaker, E.J. ; Murray, P.T. ; Sathish, S.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems.  pp.122-131,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045
9.

国際会議録

国際会議録
Hsieh, S.-J. ; Crane, R. L. ; Sathish, S.
出版情報: Thermosense XXVII.  pp.221-233,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5782
10.

国際会議録

国際会議録
Blackshire, J.L. ; Sathish, S.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.184-193,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703