1.

国際会議録
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1. Design and modeling of a silicon resonant pressure sensor
Cui,Z. ; Chen,D. ; Xia,S.
出版情報: Design, test, integration, and packaging of MEMS/MOEMS 2001 : 25-27 April 2001, Cannes, France.  pp.187-193,  2001.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4408
2.

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2. Novel estimated algorithm for information fusion on MMW/IR dual-mode combined seeker
Cui,Z. ; Zeng,T. ; Long,T.
出版情報: Data mining and applications : 23-24 October 2001, Wuhan, China.  pp.60-64,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4556
3.

国際会議録
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3. Investigation of OPC mask distortion effect
Cui,Z. ; Du,J.
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing II : 30 May-1 June, 2001, Edinburgh, UK.  pp.347-353,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4404
4.

国際会議録
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4. Design and simulation of a vacuum micropump
Cui,Z. ; Takoudis,C.G.
出版情報: Microfluidics and bioMEMS : 22-24 October 2001, San Francisco, USA.  pp.263-273,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4560
5.

国際会議録
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5. Thermally excited SiN beam resonant pressure sensor
Chen,D. ; Cui,D. ; Yu,Z. ; Wang,L. ; Cui,Z. ; Xia,S.
出版情報: Design, test, integration, and packaging of MEMS/MOEMS 2001 : 25-27 April 2001, Cannes, France.  pp.548-554,  2001.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4408
6.

国際会議録
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6. Electrothermal modeling of silicon PCR chips
Cui,Z. ; Zhao,Z. ; Xiao,S.
出版情報: MEMS design, fabrication, characterization, and packaging : 30 May-1 June 2001, Edinburgh, UK.  pp.275-280,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4407
7.

国際会議録
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7. Fine OPC approach with gray-tone coding mask
Du,J. ; Su,J. ; Huang,Q. ; Zhang,Y. ; Guo,Y. ; Du,C. ; Cui,Z.
出版情報: Optical engineering for sensing and nanotechnology (ICOSN '99) : 16-18 June 1999, Yokohama, Japan.  pp.348-351,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3740
8.

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8. New method for optical proximity correction with gray-level serifs
Du,J. ; Huang,Q. ; Guo,Y. ; Cui,Z.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.932-938,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
9.

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9. Modified proximity function for OPC in laser direct writing
Du,J. ; Gao,F. ; Zhang,Y. ; Guo,Y. ; Du,C. ; Cui,Z.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part2  pp.1047-1052,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
10.

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10. TEMP: a software package for simulation of resist heating in electron-beam lithography
Cui,Z.
出版情報: Emerging lithographic technologies II : 23-25 February 1998, Santa Clara, California.  pp.420-430,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3331