1.

国際会議録

国際会議録
Yoshikawa,M. ; Fujimura,S. ; Tanaka,S. ; Nishii,R.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing III : 23-25 September 1996, Taormina, Italy.  pp.52-62,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2955
2.

国際会議録

国際会議録
Abe,K. ; Ohshima,T. ; Itoh,H. ; Aoki,Y. ; Yoshikawa,M. ; Nashiyama,I. ; Iwami,M.
出版情報: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, ICSCIII-N'97 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997.  Part2  pp.721-724,  1998.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 264-268
3.

国際会議録

国際会議録
Ohshima,T. ; Uedono,A. ; Itoh,H. ; Abe,K. ; Suzuki,R. ; Ohdaira,T. ; Aoki,Y. ; Yoshikawa,M. ; Mikado,T. ; Okumura,H. ; Yoshida,S. ; Tanigawa,S. ; Nashiyama,I.
出版情報: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, ICSCIII-N'97 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997.  Part2  pp.745-748,  1998.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 264-268
4.

国際会議録

国際会議録
Yoshikawa,M.
出版情報: Properties and characterization of amorphous carbon films.  pp.365-386,  1990.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 52-53
5.

国際会議録

国際会議録
Itoh,H. ; Yoshikawa,M. ; Nashiyama,I. ; Wei,L. ; Tanigawa,S. ; Misawa,S. ; Okumura,H. ; Yoshida,S.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.501-506,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
6.

国際会議録

国際会議録
Yoshikawa,M. ; Saitoh,K. ; Ohshima,T. ; Itoh,H. ; Nashiyama,I. ; Takahashi,Y. ; Ohnishi,K. ; Okumura,H. ; Yoshida,S.
出版情報: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, ICSCIII-N'97 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997.  Part2  pp.1017-1020,  1998.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 264-268
7.

国際会議録

国際会議録
Kawauchi,S. ; Matsuyama,H. ; Obara,M. ; Yoshikawa,M. ; Arai,T. ; Kikuch,M. ; Katoh,M.
出版情報: Ophthalmic Technologies VII.  pp.30-34,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2971
8.

国際会議録

国際会議録
Yoshikawa,M. ; Hirata,A.
出版情報: Lasers in Synthesis, Characterization, and Processing of Diamond.  pp.120-128,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3484
9.

国際会議録

国際会議録
Ikeda,K. ; Satoh,T. ; Yoshikawa,M. ; Kurosawa,T. ; Sato,M.
出版情報: High-Power Lasers in Civil Engineering and Architecture.  pp.67-75,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3887
10.

国際会議録

国際会議録
Yoshikawa,M. ; Kurosawa,T. ; Tanno,Y.
出版情報: High-Power Lasers in Manufacturing.  pp.522-532,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3888