1.

国際会議録
国際会議録
1. Growth Mechanism and Dislocation Characterization of Silicon Carbide Epitaxial Films
Govindhan Dhanaraj ; Yi Chen ; Hui Chen ; William M. Vetter ; Hui Zhang ; Michael Dudley
出版情報: Silicon carbide 2006--materials, processing and devices : symposium held April 18-20, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.157-162,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 911
2.

国際会議録
国際会議録
2. The Formation Mechanism of Carrot Defects in SiC Epifilms
Hui Chen ; Guan Wang ; Yi Chen ; Xiaoting Jia ; Jie Bai ; Michael Dudley
出版情報: Silicon carbide 2006--materials, processing and devices : symposium held April 18-20, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.163-168,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 911