1.

国際会議録

国際会議録
Pistora, J. ; Foldyna, M. ; Yamaguchi, T. ; Vlcek, J. ; Ciprian, D. ; Postava, K. ; Stanek, F.
出版情報: Photonics, devices, and systems II :Proceedings from PHOTONICS PRAGUE 2002, 26-29 May 2002, Prague, Czech Republic, Miroslav Hrabovský, Dagmar Senderáková, Pavel Tománek, chairs/editors ; Organized by CSSF--Czech and Slovak Society for Photonics, Tech-Market.  pp.299-304,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5036
2.

国際会議録

国際会議録
Zivotsky, O. ; Postava, K. ; Foldyna, M. ; Yamaguchi, T. ; Pistora, J.
出版情報: Photonics, devices, and systems II :Proceedings from PHOTONICS PRAGUE 2002, 26-29 May 2002, Prague, Czech Republic, Miroslav Hrabovský, Dagmar Senderáková, Pavel Tománek, chairs/editors ; Organized by CSSF--Czech and Slovak Society for Photonics, Tech-Market.  pp.336-341,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5036
3.

国際会議録

国際会議録
Foldyna, M. ; Postava, K. ; Bouchala, J. ; Pistora, J. ; Yamaguchi, T.
出版情報: Microwave and Optical Technology 2003.  pp.301-305,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5445
4.

国際会議録

国際会議録
Postava, K. ; Hlubina, P. ; Maziewski, A. ; Ossikovski, R. ; Foldyna, M. ; -ivotsky, O. ; Pi-tora, J. ; Vi--ovsky, -. ; Yamaguchi, T.
出版情報: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV.  pp.143-151,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5856