1.
国際会議録
Y. Hwang ; S. Cha ; S. Kim ; S. Ji ; D. Lee
出版情報:
Proton exchange membrane fuel cells 8 . pp.1365-1375, 2008. Pennington, NJ. Electrochemical Society
シリーズ名:
ECS transactions
シリーズ巻号:
16(2)
2.
テクニカルペーパー
C. Lee ; Y. Na ; Y. Hwang ; S. Lee
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2006. Reston, Va. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号:
2006
3.
テクニカルペーパー
B. Lee ; H. Kim ; Y. Hwang ; J. Kim
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号:
2008
4.
テクニカルペーパー
A. Yohannes ; T. Lacy ; Y. Hwang
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2007. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference
シリーズ巻号:
2007
5.
テクニカルペーパー
Y. Hwang ; B. Lee ; H. Kim ; J. Kim ; H. Kim ; H. Shin
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2006. Reston, Va. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : Astrodynamics Specialist Conference
シリーズ巻号:
2006
6.
テクニカルペーパー
Y. Hwang ; B. Lee ; H. Kim ; J. Kim
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2006. Reston, Va. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号:
2006
7.
テクニカルペーパー
H. Kim ; B. Lee ; Y. Hwang ; J. Kim
出版情報:
AIAA meeting papers on disc . 2006. Reston, Va. American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名:
AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号:
2006
8.
国際会議録
Y. Hwang ; W. Ma ; E. Kang ; C. Lim ; S. Moon ; S. An ; K. Rhe
出版情報:
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6518
9.
国際会議録
W. Ma ; Y. Hwang ; E. Kang ; S. Park ; J. Kang ; C. Lim ; S. Moon
出版情報:
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6518
10.
国際会議録
S. Kim ; S. Koo ; J. Choi ; Y. Hwang ; J. Park ; E. Kang ; C. Lim ; S. Moon ; J. Kim
出版情報:
Optical microlithography XX . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6520
11.
国際会議録
S. Yun ; J. Song ; I. Yeo ; Y. Choi ; V. Yurlov ; S. An ; H. Park ; H. Yang ; Y. Lee ; K. Han ; I. Shyshkin ; A. Lapchuk ; K. Oh ; S. Ryu ; J. Jang ; C. Park ; C. Kim ; S. Kim ; E. Kim ; K. Woo ; J. Yang ; J. Kim ; S. Byun ; S. Lee ; O. Lim ; J. Cheong ; Y. Hwang ; G. Byun ; J. Kyoung ; S. Yoon ; J. Lee ; T. Lee ; S. Hong ; Y. Hong ; D. Park ; J. Kang ; W. Shin ; S. Oh ; B. Song ; H. Kim ; C. Koh ; Y. Ryu ; H. Lee ; Y. Baek
出版情報:
Emerging liquid crystal technologies II : 21-22 and 24 January 2007, San Jose, California, USA . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6487