1.

国際会議録

国際会議録
Liu,Y. ; Li,Y. ; Xu,J. ; Cao,L.
出版情報: Advanced optical manufacturing and testing technology : 1-3 November 2000, Chengdu, China.  pp.460-463,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4231
2.

国際会議録

国際会議録
Hua,Q. ; Zheng,W. ; Li,Y. ; Liang,Y. ; He,P. ; Li,S. ; Xu,J.
出版情報: Instruments for optics and optoelectronic inspection and control, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.221-224,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4223