1.

国際会議録

国際会議録
Chen,J. ; Li,Q. ; Xu,J.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.47-51,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
2.

国際会議録

国際会議録
Chen,C. ; Xu,Z. ; Yin,T. ; Lian,P. ; Zhao,H. ; Gao,G. ; Chen,J. ; Zou,D. ; Shen,G. ; Xu,J. ; Yang,G. ; Chen,L. ; Wang,Q.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.302-307,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547