1.

国際会議録
国際会議録
1. Surface contour measurement using an optical scanner
J. Yu ; J. Xu ; X. Zhang ; X. Sun
出版情報: Optical manufacturing and testing : 9-11 July, 1995, San Diego, California.  pp.192-201,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2536
2.

国際会議録
国際会議録
2. Edge control in computer-controlled optical polishing
X. Zhang ; J. Yu ; X. Sun ; Z. Zhang
出版情報: Optical manufacturing and testing : 9-11 July, 1995, San Diego, California.  pp.293-301,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2536
3.

学術雑誌
学術雑誌
3. Effects of SiC on the Properties and Microstructures of Closed-Pore Al2O3-MgAl2O4 Refractory Aggregates
"Interceram" special edition
出版情報: Refractories manual : Interceram special edition.  2016  (1),  pp.50-53,  2016.  Lubeck-Freiburg.  G. Schmid
4.

国際会議録
国際会議録
4. Quadratic programming based multi-target tracking in infrared image sequence
J. Wan ; J. Yu ; X. Zhang
出版情報: MIPPR 2007.  1  pp.67860I-1-67860I-6,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6786