1.

国際会議録

国際会議録
X. Zhang ; W. Chen ; X. Yu ; J. Yan
出版情報: Optical Design and Testing III.  2  pp.683438-1-683438-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6834
2.

国際会議録

国際会議録
B. Wang ; J. Yan ; X. Zhang ; Y. Gu
出版情報: International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2007, related technologies and applications : 9-12 September 2007, Beijing China.  pp.66250S-1-66250S-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6625
3.

国際会議録

国際会議録
J. Yan ; Y. Wen ; X. Yu ; X. Zhang
出版情報: International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2007, optoelectronic system design, manufacturing, and testing : 9-12 September 2007, Beijing China.  pp.66240B-1-66240B-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6624
4.

国際会議録

国際会議録
X. Zhang ; X. Yu ; J. Yan ; B. Dong ; Y. Huang
出版情報: Large mirrors and telescopes : 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies : 19-21 November 2008, Chengdu, China.  pp.72810T-1-72810T-5,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7281