1.

国際会議録
国際会議録
1. Flight experience of the Compact High-Resolution Imaging Spectrometer (CHRIS)
Cutter, M.A. ; Johns, L.S. ; Lobb, D.R. ; Williams, T.L. ; Settle, J.J.
出版情報: Imaging spectrometry IX : 6-7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.392-405,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5159
2.

国際会議録
国際会議録
2. Wavefront sensing for testing spherical surfaces and lens systems: a new approach
Williams, T.L. ; Cormier, A.J.
出版情報: Optical fabrication, testing, and metrology : 30 September-3 October 2003, St. Etienne, France.  pp.346-357,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5252
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. An implicit surface tension model
Hochstein, J.I. ; Williams, T.L.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-11,  1996.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1996