1.

国際会議録

国際会議録
Uedeno, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tabuki, Y ; Tanigawa, S. ; Sugiura, J. ; Ogasawara, M. ; Tamura, M,
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.1061-1066,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
2.

国際会議録

国際会議録
Kametani, H. ; Akiyama, H. ; Yamaguchi, Y. ; Koumaru, M, ; Wei, L. ; Tabuki, Y. ; Tanigawa, S. ; Uedono, A. ; Watauchi, S. ; Ujihira, Y. ; Suzuki, R. ; Ohgaki, H. ; Mikado, T.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.235-240,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
3.

国際会議録

国際会議録
Uedono, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tanigawa, S.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.277-282,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
4.

国際会議録

国際会議録
Uedono, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tabuki, Yasushi ; Tanigawa, Shoichiro ; Wada, K ; Nakanishi, H.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.325-330,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262