1.

国際会議録

国際会議録
Zhao, S. ; Wang, Z. ; Dong, X. ; Chen, X.
出版情報: Image processing and pattern recognition in remote sensing II :8-9 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA.  pp.99-106,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5657
2.

国際会議録

国際会議録
Wang, Z. ; Chen, X. ; Zhao, S. ; Luo, Y.
出版情報: Image processing and pattern recognition in remote sensing II :8-9 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA.  pp.74-81,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5657
3.

国際会議録

国際会議録
Wang, Z. ; Chen, B. ; Fan, P. ; Chen, X.
出版情報: X-ray and ultraviolet spectroscopy and polarimetry II : 23-24 July 1998, San Diego, California.  pp.137-143,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3443
4.

国際会議録

国際会議録
Wang, Z. ; Chen, X. ; Ye, P.
出版情報: APOC 2001: Asia-Pacific Optical and Wireless Communications : optical network design and management : 13-15 November 2001, Beijing, Chaina.  pp.236-243,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4584
5.

国際会議録

国際会議録
Wang, Z. ; Gao, C. ; Tian, J. ; Liu, J. ; Chen, X.
出版情報: International Conference on Space Information Technology.  pp.59853J-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5985
6.

国際会議録

国際会議録
Chen, X. ; Shen, F. ; Wang, A. ; Wang, Z. ; Zhang, Y.
出版情報: Sensors for Harsh Environments.  pp.111-121,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5590