1.

国際会議録

国際会議録
Huang, J. ; Wang, Y. ; Wang, F. ; Wang, X.
出版情報: Remote sensing and modeling of ecosystems for sustainability : 2-4 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.256-265,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5544
2.

国際会議録

国際会議録
Huang, J. ; Wang, F. ; Wang, X. ; Tang, Y. ; Wang, R.
出版情報: Ecosystems' dynamics, agricultural remote sensing and modeling, and site-specific agriculture : 7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.186-194,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5153
3.

国際会議録

国際会議録
Wang, F. ; Wang, X. ; Ma, M. ; Zhang, D. ; Shi, W. ; Hu, J.
出版情報: Advanced microlithography technologies : 8-10 November, 2004, Beijing, China.  pp.208-216,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5645
4.

国際会議録

国際会議録
Zhang, D. ; Wang, X. ; Shi, W. ; Wang, F. ; Guo, L. ; Hu, J. ; Ma, M. ; He, L.
出版情報: Advanced microlithography technologies : 8-10 November, 2004, Beijing, China.  pp.180-187,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5645
5.

国際会議録

国際会議録
Shi, W. ; Wang, X. ; Zhang, D. ; Wang, F. ; Ma, M.
出版情報: Advanced microlithography technologies : 8-10 November, 2004, Beijing, China.  pp.233-239,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5645
6.

国際会議録

国際会議録
Wang, X. ; Huang, J. ; Tang, Y. ; Wang, F.
出版情報: Ecosystems' dynamics, agricultural remote sensing and modeling, and site-specific agriculture : 7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.95-102,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5153
7.

国際会議録

国際会議録
Ma, M. ; Wang, X. ; Wang, F. ; Shi, W. ; Zhang, D.
出版情報: 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  pp.615003-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6150