1.

国際会議録

国際会議録
Ronse, K. ; Vandenberghe, G. ; Hendrickx, E. ; Leunissen, L. H. A. ; Aksenov, Y.
出版情報: EMLC 2005 : 21st European Mask and Lithography Conference : 31 January-3 February, 2005, Dresden, Germany.  pp.6-12,  2005.  Bellingham, Wash.,.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5835
2.

国際会議録

国際会議録
Lucas, K. ; Montgomery, P. ; Litt, L.C. ; Conley, W. ; Postnikov, S.V. ; Wu, W. ; Yuan, C.-M. ; Olivares, M. ; Strozewski, K. ; Carter, R.L. ; Vasek, J. ; Smith, D. ; Fanucchi, E.L. ; Wiaux, V. ; Vandenberghe, G. ; Toublan, O. ; Verhappen, A. ; Kuijten, J.P. ; van Wingerden, J. ; Kasprowicz, B.S. ; Tracy, J.W. ; Progler, C.J. ; Shiro, E. ; Topouzov, I. ; Wimmer, K. ; Roman, B.J.
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing II : 26-28 February 2003, Santa Clara, California, USA.  pp.353-364,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5042
3.

国際会議録

国際会議録
Verhaegen, S. ; Nackaerts, A. ; Wiaux, V. ; Hendrickx, E. ; Vandenberghe, G.
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing III : 3-4 March 2005, San Jose, California, USA.  pp.120-130,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5756
4.

国際会議録

国際会議録
Yuito, T. ; Wiaux, V. ; Look, L. Van ; Vandenberghe, G. ; Irie, S. ; Matsuo, T. ; Misaka, A. ; Watanabe, H. ; Sasago, M.
出版情報: Optical microlithography XVIII : 1-4 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.1377-1387,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5754
5.

国際会議録

国際会議録
Driessen, F.A. ; Zawadzki, M.T. ; Krishnan, P.R. ; Balasinski, A. ; Vandenberghe, G.
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing II [sic] : 26-27 February 2004, Santa Clara, California, USA.  pp.224-234,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5379
6.

国際会議録

国際会議録
Wiaux, V. ; Bekaert, J. ; Chen, J.F. ; Hsu, S.D. ; Ronse, K.G. ; Socha, R.J. ; Vandenberghe, G. ; Van Den Broeke, D.J.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XI.  pp.585-594,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5446
7.

国際会議録

国際会議録
Yoshizawa, M. ; Philipsen, V. ; Leunissen, A. H. L. ; Hendrickx, E. ; Jonckheere, R. ; Vandenberghe, G. ; Buttgereit, U. ; Becker, H. ; Koepernik, C. ; Irmscher, M.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XIII.  pp.62831G-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6283
8.

国際会議録

国際会議録
Finders, J. ; Engelen, A. ; Vandenberghe, G. ; Bekaert, J. ; Chen, T.
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.615412-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
9.

国際会議録

国際会議録
Van Look, L. ; Kasprowicz, B. ; Zibold, A. ; Degel, W. ; Vandenberghe, G.
出版情報: 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.59921S-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5992
10.

国際会議録

国際会議録
Bekaert, J. ; Philipsen, V. ; Vandenberghe, G. ; van den Broeke, D. ; Degel, W. ; Zibold, A.
出版情報: 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.59921O-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5992