1.

国際会議録

国際会議録
Ohjim Yuzuru ; Uedono, Akira ; Wei, Long ; Tabuki, Yasushi ; Tanigawa, Shoichiro
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.313-318,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
2.

国際会議録

国際会議録
Sugiura, Jun ; Ogasawara, Makoto ; Uedono, Akira ; Wei, Long ; Tanigawa, Shoichiro
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.1055-1060,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262