1.

国際会議録
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1. Electron response characteristics of PSD and applications
Fu,L. ; Li,Y. ; Jiang,D. ; Lu,Y. ; Tian,J. ; Wang,G.
出版情報: Fiber optic sensors V : 6-7 November 1996, Beijing, China.  pp.548-551,  1996.  Bellingham, Wash. USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2895
2.

国際会議録
国際会議録
2. Surface emitter in near UV: study on metallic film
DuanMu,Q. ; Tian,J. ; Li,Y. ; Jiang,D. ; Lu,Y. ; Fu,L.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.327-329,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
3.

国際会議録
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3. New way of preparing ion barrier ultrathin film without pollution
DuanMu,Q. ; Jiang,D. ; Lu,Y. ; Li,Y. ; Fu,L. ; Tian,J.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.443-445,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
4.

国際会議録
国際会議録
4. Technology of ultrathin films for ion-preventive feedback
Jiang,D. ; Tian,J. ; Liu,G. ; Lu,Y. ; Li,Y. ; Fu,L. ; Wang,G.
出版情報: Third International Conference on Thin Film Physics and Applications : 15-17 April 1997, Shanghai, China.  pp.352-355,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3175
5.

国際会議録
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5. Imaging detector in the near UV
Duanmu,Q. ; Tian,J. ; Li,Y. ; Lu,Y. ; Jiang,D. ; Fu,L. ; Wang,G.
出版情報: Detectors, focal plane arrays, and imaging devices II : 18-19 September 1998, Beijing, China.  pp.168-170,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3553