1.

国際会議録

国際会議録
Wei, F. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Clement, J.J. ; Hau-Riege, S.P. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Tay, H.L. ; Yu, B. ; Radhakrishnan, M.K.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.645-650,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
2.

国際会議録

国際会議録
Choi, Z.-S. ; Chang, C.W. ; Lee, J.H. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K.
出版情報: Materials, technology and reliability of advanced interconnects - 2005 : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.271-276,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 863
3.

国際会議録

国際会議録
Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Wei, F. ; Yu, B. ; Hau-Riege, S.P.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.431-438,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
4.

国際会議録

国際会議録
Choi, Z.-S. ; Gan, C.L. ; Wei, F. ; Thompson, C.V. ; Lee, J.H. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.373-378,  2004.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 812
5.

国際会議録

国際会議録
Chang, C.W. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Hwang, N.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.339-344,  2004.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 812