1.

国際会議録
国際会議録
1. Wafer-scale replication and testing of micro-optical components for VCSELs
Gimkiewicz, C. ; Moser, M. ; Obi, S. ; Urban, C. ; Pedersen, J.S. ; Thiele, H. ; Zschokke, C. ; Gale, M.T.
出版情報: Micro-optics, VCSELs, and photonic interconnects : 27-29 April 2004, Strasbourg, France.  pp.13-26,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5453
2.

国際会議録
国際会議録
2. Resonant grating filters at oblique incidence
Niederer, G. ; Salt, M. ; Herzig, H. P. ; Thiele, H. ; Gale, M. T. ; Zschokke, C. ; Schnieper, M.
出版情報: Lithographic and micromachining techniques for optical component fabrication II : 3-4 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.40-46,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5183
3.

国際会議録
国際会議録
3. DARWIN fringe sensor: experimental results on the BRISE bench [6268-87]
Mocceur, I. ; Cassaing, F. ; Baron, F. ; Mugnier, L. ; Hofer, S. ; Thiele, H.
出版情報: Advances in Stellar Interferometry.  pp.62682B-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6268
4.

国際会議録
国際会議録
4. MEMS tunable filter for telecom applications
Overstolz, T. ; Niederer, G. ; Noell, W. ; Gale, M. T. ; Herzig, H. P. ; Obi, S. ; Thiele, H. ; de Rooij, N. F.
出版情報: MEMS, MOEMS, and Micromachining.  pp.240-251,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5455