1.

国際会議録
国際会議録
1. Identification of the Negative Di-Carbon Antisite Defect in n-Type 4H-SiC
A. Gali ; T. Umeda ; E. Janzen ; N. Morishita ; T. Ohshima
出版情報: Silicon carbide and related materials 2008 : selected peer reviewed papers from the 7th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, September 7-11 Barcelona, Spain.  pp.361-364,  2009.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 615-617
2.

国際会議録
国際会議録
2. Deep Acceptor Levels of the Carbon Vacancy-Carbon Antisite Pairs in 4H-SiC
P. Carlsson ; N.T. Son ; T. Umeda ; J. Isoya ; E. Janzen
出版情報: Silicon carbide and related materials 2006 : ECSCRM 2006, Proceedings of the 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Newcastle upon Tyne, UK, September 2006.  pp.449-452,  2007.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 556-557