1.

国際会議録

国際会議録
Emtsev,V.V. ; Andree,B.A. ; Poloskin,D.S. ; Sobolev,N.A. ; Shek,E.I.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part3  pp.1515-1520,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録

国際会議録
Emtsev,V.V. ; Alexandrov,O.V. ; Poloskin,D.S. ; Shek,E.I. ; Sobolev,N.A.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.615-620,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
3.

国際会議録

国際会議録
Sobolev,N.A. ; Emtsev,V.V. ; Gresserov,B.N. ; Klinger,P.M. ; Poloskin,D.S. ; Shabalin,E.P. ; Shek,E.I. ; Vyzhigin,Yu.V.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.129-134,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
4.

国際会議録

国際会議録
Emtsev,V.V. ; Poloskin,D.S. ; Shek,E.I. ; Sobolev,N.A.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.163-166,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201