1.

国際会議録
国際会議録
1. Lifetime and Leakage Current Studies in Shallow P-N Junctions
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R. ; Badenes, G. ; Gaubas, E.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.403-413,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
国際会議録
2. IMPACT OF STATE-OF-THE-ART Cz SUBSTRATES ON THE CURRENT-VOLTAGE CHARACTERSTiCS OF SHALLOW p-n JUNCTIONS
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Huber, A. ; Graef, D. ; Gaubas, E.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.694-706,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
3.

国際会議録
国際会議録
3. IMPACT OF STATE-OF-THE-ART Cz SUBSTRATES ON THE CURRENT-VOLTAGE CHARACTERSTICS OF SHALLOW p-n JUNCTIONS
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Huber, A. ; Graef, D. ; Gaubas, E.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.694-704,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2