1.

国際会議録
国際会議録
1. Impact of the Generation Width on the Lifetime Extraction in Cz Siliconp-n Junction Diodes
Czerwinski, A. ; Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.88-99,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
2.

国際会議録
国際会議録
2. OPTIMISED DIODE ASSESSMENT OF THE SURFACE AND BULK GENERATION/RECOMBINATION PROPERTIES OF SILICON SUBSTRATE
Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C. ; Czerwinski, A. ; Katcki, J.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1576-1592,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)
3.

国際会議録
国際会議録
3. P-N Junction Diagnostics of the Electrical Epi-Layer Quality: A Feasibility Study
Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C. ; Czerwinski, A.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.410-421,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
4.

国際会議録
国際会議録
4. New Method for Accurate Determination of the Electric Field Enhancement in Junctions - Theoretical Model and Applications to STI Diodes With High Fields
Czerwinski, A. ; Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C.
出版情報: High purity silicon VII : proceedings of the international symposium.  pp.278-289,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-20