1.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R. ; Badenes, G. ; Gaubas, E.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.403-413,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録

国際会議録
Czerwinski, A. ; Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.88-99,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
3.

国際会議録

国際会議録
Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C. ; Czerwinski, A. ; Katcki, J.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1576-1592,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)
4.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Rittaporn, I. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.307-316,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
5.

国際会議録

国際会議録
Simoen, E. ; Poyai, A. ; Claeys, C. ; Czerwinski, A.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.410-421,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
6.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of the symposia on: ALTECH 2003, Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV, Paris, France and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society, Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI, Salt Lake City, Utah.  pp.386-395,  2003.  Pennington, NJ.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5133
7.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R. ; Redolfi, A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2002 : proceedings of the seventeenth international symposium.  pp.213-222,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-8
8.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Huber, A. ; Graef, D. ; Gaubas, E.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.694-706,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
9.

国際会議録

国際会議録
Poyai, A. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Rooyackers, R.
出版情報: High purity silicon VII : proceedings of the international symposium.  pp.266-277,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-20
10.

国際会議録

国際会議録
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Poyai, A.
出版情報: Crystalline defects and contamination: their impact and control in device manufacturing III : DECON 2001 : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 2001, Nuremberg, Germany.  pp.75-92,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-29