1.

国際会議録

国際会議録
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
2.

国際会議録

国際会議録
Krug, C. ; Baumvol, I.J.R. ; Stedile, F.C. ; Green, M.L. ; Klemens, F. ; Silverman, P.J. ; Sorsch, T.W. ; Alvarez, F. ; Hammer, P. ; Victoria, N.M.
出版情報: The physics and chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 interface-4, 2000 : proceedings of the fourth International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface, Tronto, Canada, May 15-18, 2000.  pp.187-198,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-2
3.

国際会議録

国際会議録
Monroe, Don ; Xie, Y.-H. ; Fitzgerald, E.A. ; Silverman, P.J.
出版情報: Semiconductor heterostructures for photonic and electronic applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.449-454,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 281
4.

国際会議録

国際会議録
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
5.

国際会議録

国際会議録
Cohen, R.L. ; Feldman, L.C. ; West, K.W. ; Silverman, P.J.
出版情報: Nuclear and electron resonance spectroscopies applied to materials science : proceedings of the Materials Research Society Annual Meeting, November 1980, Copley Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.357-358,  1981.  New York, N.Y..  North Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposia proceedings
シリーズ巻号: 3
6.

国際会議録

国際会議録
Gwyn, C.W. ; Silverman, P.J.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology X.  pp.990-1004,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5130