1.

国際会議録
国際会議録
1. INVITED: LOW VOLTAGE GATE DIELECTRIC RELIABILITY
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
2.

国際会議録
国際会議録
2. INVITED: LOW VOLTAGE GATE DIELECTRIC RELIABILITY
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2