1.

国際会議録

国際会議録
Zhao, F.F. ; Shen, Z.X. ; Zheng, J.Z. ; Gao, W.Z. ; Osipowicz, T. ; Pang, C.H. ; Lee, P.S. ; See, A.K.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.41-46,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
2.

国際会議録

国際会議録
Chen, S.Y. ; Shen, Z.X. ; Xu, S.Y. ; See, A.K. ; Chan, L.H. ; Li, W.S.
出版情報: Gate stack and silicide issues in silicon processing II : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2002.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 670