1.

国際会議録
国際会議録
1. New NBTI Lifetime Prediction Method for Ultra Thin SiO₂ Film
K. Watanabe ; R. Kuroda ; A. Teramoto ; S. Sugawa ; T. Ohmi
出版情報: Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface-5.  pp.147-160,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 1(1)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Hot Carrier Instability Mechanism in Accumulation-Mode Normally-off SOI nMOSFETs and Their Reliability Advantage
R. Kuroda ; A. Teramoto ; W. Cheng ; S. Sugawa ; T. Ohmi
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.113-120,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)