1.

国際会議録

国際会議録
Goethals,A.-M. ; Pollers,I. ; Jaenen,P. ; Roey,F.Van ; Ronse,K. ; Heskamp,B. ; Davies,G.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.278-289,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
2.

国際会議録

国際会議録
Maenhoudt,M. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K. ; Flagello,D.G. ; Geh,B. ; Kaiser,W.M.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.347-357,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
3.

国際会議録

国際会議録
Vandenberghe,G. ; Marschner,T. ; Ronse,K. ; Socha,R.J. ; Dusa,M.V.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.228-238,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
4.

国際会議録

国際会議録
Pollentier,I.K. ; Baerts,C. ; Marschner,T. ; Ronse,K. ; Grozev,G. ; Reybrouck,M.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.882-892,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
5.

国際会議録

国際会議録
Finders,J. ; Schoot,J.B.van ; Vanoppen,P. ; Dusa,M.V. ; Socha,R.J. ; Vandenberghe,G. ; Ronse,K.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.192-205,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
6.

国際会議録

国際会議録
Randall,J. ; Tritchkov,A. ; Jonckheere,R. ; Jaenen,P. ; Ronse,K.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.124-130,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
7.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Maenhoudt,M. ; Marschner,T. ; Van,den,hove,L. ; Streefkerk,B. ; Finders,J. ; van,Schoot,J. ; Luehrmann,P.F. ; Minvielle,A.M.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.56-66,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
8.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Goethals,A.M. ; Vandenberghe,G. ; Maenhoudt,M.
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing : 19-21 May 1999, Edinburgh, Scotland.  pp.34-39,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3741
9.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Vandenberghe,G. ; Jaenen,P. ; Delvaux,C. ; Vangoidsenhoven,D. ; Roey,F.Van ; Pollers,I. ; Maenhoudt,M. ; Goethals,A.M. ; Pollentier,I.K. ; Vleeming,B. ; Schenau,K.van lngen ; Heskamp,B. ; Davies,G. ; Niroomand,A.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.410-422,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
10.

国際会議録

国際会議録
Maenhoudt,M. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K. ; Zandbergen,P. ; Muzio,E.G.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.373-387,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
11.

国際会議録

国際会議録
Rosenbusch,A. ; Hourd,A.C. ; Juffermans,C.A. ; Kirsch,H. ; Lalanne,F.P. ; Maurer,W. ; Romeo,C. ; Ronse,K. ; Schiavone,P. ; Simecek,M. ; Toublan,O. ; Vermeuien,T. ; Watson,J.C. ; Ziegler,W.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.639-647,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
12.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Tritchkov,A. ; Randall,J. ; Jonckheere,R. ; Ghandehari,K. ; Van den hove,L.
出版情報: Photomask and X-ray mask technology IV : 17-18 April, 1997, Kawasaki, Japan.  pp.138-144,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3096
13.

国際会議録

国際会議録
Randall,J. ; Ronse,K. ; Marschner,T. ; Goethals,M. ; Ercken,M.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.176-182,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
14.

国際会議録

国際会議録
Pollentier,I.K. ; Ercken,M. ; Eliat,A. ; Delvaux,C. ; Jaenen,P. ; Ronse,K.
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing II : 30 May-1 June, 2001, Edinburgh, UK.  pp.56-67,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4404
15.

国際会議録

国際会議録
Maenhoudt,M. ; Goidsenhoven,D.Van ; Pollentier,I.K. ; Ronse,K. ; Lepage,M. ; Struyf,H. ; Hove,M.Van
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing II : 30 May-1 June, 2001, Edinburgh, UK.  pp.1-13,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4404
16.

国際会議録

国際会議録
Op,de,Beeck,M. ; Vandenberghe,G. ; Jaenen,P. ; Zhang,F.-H. ; Delvaux,C. ; Richardson,P. ; van,Puyenbroeck,I. ; Ronse,K. ; Lamb,III,J.E. ; van,der,Hilst,J.B.C. ; van,Wingerden,J.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.322-336,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
17.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Beeck,M.Opde ; Yen,A. ; Kim,K.-H. ; hove,L.Van den
出版情報: Optical Microlithography IX.  Part2  pp.555-563,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2726
18.

国際会議録

国際会議録
Tritchkov,A. ; Rieger,M.L. ; Stirniman,J.P. ; Yen,A. ; Ronse,K. ; Vandenberghe,G. ; hove,L.Van den
出版情報: Optical Microlithography X.  pp.726-738,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3051
19.

国際会議録

国際会議録
Beeck,M.Op de ; Ronse,K. ; Ghandehari,K. ; Jaenen,P. ; Botermans,H. ; Finders,J. ; Lilygren,J.A. ; Baker,D.C. ; Vandenberghe,G. ; Bisschop,P.De ; Maenhoudt,M. ; hove,L.Van den
出版情報: Optical Microlithography X.  pp.320-332,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3051
20.

国際会議録

国際会議録
Beeck,M.Op de ; Bruggeman,B. ; Botermans,H. ; Driessche,V.Van ; Yen,A. ; Tritchkov,A. ; Jonckheere,R. ; Ronse,K. ; hove,L.Van den
出版情報: Optical Microlithography IX.  Part2  pp.622-633,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2726
21.

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国際会議録
Vandenberghe,G.N. ; Kim,Y.-C. ; Delvaux,C. ; Lucas,K.D. ; Choi,S.-J. ; Ercken,M. ; Ronse,K. ; Vleeming,B.
出版情報: Optical Microlithography XIV.  4346  pp.179-190,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4346
22.

国際会議録

国際会議録
Verhaegen,S. ; Gordon,R.L. ; Jonckheere,R.M. ; McCallum,M. ; Ronse,K.
出版情報: Optical Microlithography XIV.  4346  pp.368-378,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4346
23.

国際会議録

国際会議録
Jonckheere,R.M. ; Vandenberghe,G.N. ; Wiaux,V. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology VIII.  pp.108-117,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4409
24.

国際会議録

国際会議録
Vandenberghe,G.N. ; Jaenen,P. ; Jonckheere,R.M. ; Ronse,K. ; Toublan,O.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology VIII.  pp.61-69,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4409
25.

国際会議録

国際会議録
Kim,Y.-C. ; Vandenberghe,G.N. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K.
出版情報: 21st Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  4562  pp.954-967,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4562
26.

国際会議録

国際会議録
Vandenberghe,G.N. ; Driessen,F. ; Adrichem,P.J.van ; Ronse,K. ; Li,J. ; Karklin,L.
出版情報: 21st Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  4562  pp.394-405,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4562
27.

国際会議録

国際会議録
Rosenbusch,A. ; Juffermans,A.H. ; Kirsch,H. ; Lalanne,F.P. ; Maurer,W. ; Romeo,C. ; Ronse,K. ; Schiavone,P. ; Simecek,M. ; Toublan,O. ; Watson,J.C. ; Ziegler,W. ; Zimmermann,R.
出版情報: 18th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.585-593,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3546
28.

国際会議録

国際会議録
Jonckheere,R. ; Randall,J.N. ; Marschner,T. ; Ronse,K.
出版情報: 18th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.313-324,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3546
29.

国際会議録

国際会議録
Goethals,A.M. ; Vertommen,J. ; Roey,F.Van ; Yen,A. ; Tritchkov,A. ; Ronse,K. ; Jonckheere,R. ; hove,L.Van den
出版情報: Optical Microlithography IX.  Part1  pp.362-374,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2726