1.

国際会議録
国際会議録
1. The testing of responding time delay of the hybrid integrated circuit of PIN photodiode [6352-70]
Fu, R. ; Chang, B. ; Qian, Y. ; Qiu, Y.
出版情報: Optoelectronic materials and devices : 5-7 September, 2006, Gwangju, South Korea.  pp.63521R-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6352
2.

国際会議録
国際会議録
2. The rectifying device for optical axis of sighting devices
Fu, R. ; Chang, B. ; Qian, Y. ; Zhan, Q. ; Qiu, Y.
出版情報: Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.621-630,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5638
3.

国際会議録
国際会議録
3. Test of 1.06-μm photo detector of PIN photodiode
Fu, R. ; Chang, B. ; Qian, Y. ; Zong, Z. ; Qiu, Y.
出版情報: Materials, Active Devices, and Optical Amplifiers.  pp.566-573,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5280