1.

国際会議録
国際会議録
1. Vacancy-Nitrogen Complexes in Float-Zone Silicon
Quast, F. ; Pichler, P. ; Ryssel, H. ; Falster, R.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.156-163,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
国際会議録
2. Influence of RTP on Vacancy Concentrations
Jacob, M. ; Pichler, P. ; Wohs, M. ; Ryssel, H. ; Falster, R.
出版情報: Semiconductor process and device performance modeling : symposium held December 2-3, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.129-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 490